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KITA喜多制作所探針:半導(dǎo)體測試中的核心部件與分類指南
KITA喜多制作所探針:半導(dǎo)體測試中的核心部件與分類指南

更新時(shí)間:2025-12-26

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內(nèi)置于集成電路測試設(shè)備PCB的IC插座中,作為被測集成電路/電子元件電極與PCB之間的電通路核心部件,實(shí)現(xiàn)信號與電流的穩(wěn)定傳輸。
- 2位置可移動柱塞:示例系列(KHW-、KMW-、KW1-),支持雙向移動。
- 1位置單側(cè)可移動柱塞:示例系列(KHS-、KLS-、KB2-),僅單側(cè)活動。注:兩類均提供對應(yīng)插座組裝圖。
- 雙作用型(直型):適用于直型桶探針的標(biāo)準(zhǔn)安裝。
- 單側(cè)活動式(帶法蘭):針對單側(cè)可移動柱塞的組裝設(shè)計(jì)。
- BGA、CSP:適配球柵陣列/芯片級封裝的焊點(diǎn)接觸。
- 材料:BeCu(鈹銅,主力材料)、鈀合金(防焊料轉(zhuǎn)移,無需電鍍)。
- 電鍍:金合金(硬度高于純金,抑制焊料轉(zhuǎn)移)、Au(鍍金,優(yōu)先保障導(dǎo)電性)。
- 材料:銅管(黃銅、磷青銅等)、合金槍管(北制作所原裝,兼容外徑0.11-0.42mm)。
- 高溫不銹鋼:北制作所設(shè)計(jì),耐高溫-45~200℃。
最長12個月,需滿足環(huán)境條件:溫度20-30℃、濕度≤30%、無塵、無腐蝕性污染。
- 電應(yīng)用時(shí),需在電機(jī)靜止?fàn)顟B(tài)下,按推薦行程施加電流和電壓,避免動態(tài)負(fù)載下的接觸不良或損壞
總結(jié):KITA探針通過結(jié)構(gòu)優(yōu)化、材料適配(如BeCu柱塞、高溫彈簧)及分類設(shè)計(jì)(按IC封裝類型定制尖),滿足半導(dǎo)體器件測試中的高精度、高可靠性電連接需求,同時(shí)明確儲存與使用規(guī)范以保障壽命與性能。
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